2015年第12号 中华人民共和国行业标准备案公告

类别:清香剂    发布时间:2019-04-16 08:11    浏览:

现予以公告(见附件)。

SJ/T 11012-1996, SJ/T 11032-1996 SJ/T 11031-1996, 2015-10-10 2016-04-01 工业和信息化部 31 52017-2015 SJ/T 11028-2015 电子器件用金铜钎料地 分析方法 EDTA容量法测定铜 SJ/T 11028-1996 2015-10-10 2016-04-01 工业和信息化部 32 52018-2015 SJ/Z 2808-2015 印制板组装件热设计 SJ/Z 2808-1987 2015-10-10 2016-04-01 工业和信息化部 33 52019-2015 SJ/T 11551-2015 高密度互连印制电路用涂树脂铜箔 2015-10-10 2016-04-01 工业和信息化部 34 52020-2015 SJ/T 11552-2015 以布鲁斯特角入设P偏振辐射红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量 2015-10-10 2016-04-01 工业和信息化部 35 52021-2015 SJ/T 11553-2015 93%氧化铝真空电子用陶瓷 2015-10-10 2016-04-01 工业和信息化部 36 52022-2015 SJ/T 11554-2015 用电感耦合等离子体发射光谱法测定氢氟酸中金属元素地 含量 2015-10-10 2016-04-01 工业和信息化部 37 52023-2015 SJ/T 11555-2015 用电感耦合等离子体质谱法测定硝酸中金属元素地 含量 2015-10-10 2016-04-01 工业和信息化部 38 52024-2015 SJ/T 11556-2015 用原子吸收光谱测定硝酸溶剂中银、金、钙、铜、铁、钾和钠地 含量 2015-10-10 2016-04-01 工业和信息化部 39 52025-2015 SJ/T 11557-2015 低压复合式开关总规范 2015-10-10 2016-04-01 工业和信息化部 40 52026-2015 SJ/T 11558.5-2015 LED驱动电源 第5部分:测试方法 2015-10-10 2016-04-01 工业和信息化部 41 52027-2015 SJ/T 2089-2015 电子测量仪器型号命名方法 SJ/T 2089-2001 2015-10-10 2016-04-01 工业和信息化部 42 52028-2015 SJ/T 2658.1-2015 半导体红外发射2 极管测量方法 第1部分:总则 SJ/T 2658.1-1986 2015-10-10 2016-04-01 工业和信息化部 43 52029-2015 SJ/T 2658.2-2015 半导体红外发射2 极管测量方法 第2部分:正向电压 SJ/T 2658.2-1986 2015-10-10 2016-04-01 工业和信息化部 44 52030-2015 SJ/T 2658.3-2015 半导体红外发射2 极管测量方法 第3部分:反向电压和反向电流 SJ/T 2658.3-1986 2015-10-10 2016-04-01 工业和信息化部 45 52031-2015 SJ/T 2658.4-2015 半导体红外发射2 极管测量方法 第4部分:总电容 SJ/T 2658.4-1986 2015-10-10 2016-04-01 工业和信息化部 46 52032-2015 SJ/T 2658.5-2015 半导体红外发射2 极管测量方法 第5部分:串联电阻 SJ/T 2658.5-1986 2015-10-10 2016-04-01 工业和信息化部 47 52033-2015 SJ/T 2658.6-2015 半导体红外发射2 极管测量方法 第6部分:辐射功率 SJ/T 2658.6-1986 2015-10-10 2016-04-01 工业和信息化部 48 52034-2015 SJ/T 2658.7-2015 半导体红外发射2 极管测量方法 第7部分:辐射通量 SJ/T 2658.7-1986 2015-10-10 2016-04-01 工业和信息化部 49 52035-2015 SJ/T 2658.8-2015 半导体红外发射2 极管测量方法 第8部分:辐射强度 SJ/T 2658.8-1986 2015-10-10 2016-04-01 工业和信息化部 50 52036-2015 SJ/T 2658.9-2015 半导体红外发射2 极管测量方法 第9部分:辐射强度空间分布和半强度角 SJ/T 2658.9-1986 2015-10-10 2016-04-01 工业和信息化部 51 52037-2015 SJ/T 2658.10-2015 半导体红外发射2 极管测量方法 第10部分:调制带宽 SJ/T 2658.10-1986 2015-10-10 2016-04-01 工业和信息化部 52 52038-2015 SJ/T 2658.11-2015 半导体红外发射2 极管测量方法 第11部分:响应时间 SJ/T 2658.11-1986 2015-10-10 2016-04-01 工业和信息化部